Schutzeinrichtungen mit Mikroprozessor-basierten Ausgängen ("sichere Halbleiterausgänge") erzeugen zur Überprüfung der ordnungsgemäßen Funktion der Halbleiterausgänge Testsignale, die unter Umständen die Eingangsebene von Sicherheits-Relais-Bausteinen stören können. Testimpuls-Muster handelsüblicher Schutzeinrichtungen (der marktführenden Hersteller), insbesondere von AOPD’s, sind bei der Schaltungsentwicklung unserer Bausteine bereits berücksichtigt und erzeugen keine Störungen.